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高精度的朗奇刻線法 高精度的朗奇刻線法
  • 在玻璃上鍍鉻
  • 高精度
  • 優於蝕刻與裝填刻線法
  • 線與邊緣平行
  • 提供英制與公制版本
精密朗奇刻線法載玻片 精密朗奇刻線法載玻片
  • 用於評估分辨率、場畸變以及等焦穩定性
  • 非常適合因應分劃板與場校準需求
  • Available on Float Glass, Fused Silica, Fused Silica with Fluorescent Backing, and Opal.
固定頻率網格畸變測試板 固定頻率網格畸變測試板
  • 適用於成像系統的畸變測量及校正
  • 鈉鈣玻璃鍍鉻或象牙白玻璃鍍鉻版本
  • 隨附 NIST 精度憑證
Clearance Thickness and Hole Gauge Scale Contact Reticles Thickness and Hole Gauge Scale Contact Reticles
  • Greater Stability than Film Reticles
  • Low Reflection Chrome Pattern
  • Compatible with 6 or 9X Comparators
多刻度接觸式刻劃板 多刻度接觸式刻劃板
  • Greater Stability than Film Reticles
  • Low Reflection Chrome Pattern
  • English or Metric Styles
Linear Scale Contact Reticles Linear Scale Contact Reticles
  • Greater Stabiliy than Film Reticles
  • Low Reflection Chrome Pattern
  • English and Metric Styles
紫外熔融矽石與螢光USAF 1951分辨率測試板 紫外熔融矽石與螢光USAF 1951分辨率測試板
  • 專為校準紫外或螢光顯微鏡而設計
  • 螢光測試板的激發波長為365nm,發射波長為550nm
  • 提供負、正與高分辨率測試板
Clearance Crossed Micrometer Scales Transmission Reticles Crossed Micrometer Scales Transmission Reticles
  • Designed for 1X Objective Power
  • 5 or 10mm Scale
  • 1.5mm Thickness
USAF圖案輪式測試板 USAF圖案輪式測試板
  • 測試4 - 228 lp/mm的分辨率
  • Ability to tests Multiple Field Points using 9 Targets
  • 縮短測試時間
Index Square Contact Reticles Index Square Contact Reticles
  • Greater Stability than Film Reticles
  • Low Reflection Chrome Pattern
  • English or Metric Index Square Scales
十字線刻度接觸式記分板 十字線刻度接觸式記分板
  • 比膠片隔板更穩定
  • 低反射鍍鉻圖案
  • 正常或虛線十字線
漫反射柵格畸變測試板 漫反射柵格畸變測試板
  • 漫反射處理模仿陶瓷測試板
  • 基片上鍍鉻膜
  • 軸上照明或軸外照明皆無眩光
  • 非常適合前置照明測量
NBS 1963A分辨率測試板 NBS 1963A分辨率測試板
  • 負片圖案或正片圖案
  • 符合NBS標準1010A
  • 頻率範圍1至512週期/mm
Clearance 可變頻率測試板 可變頻率測試板
  • 5 lp/mm至120 lp/mm,或5 lp/mm至200 lp/mm
  • 採用1mm寬的步長
  • 採用5 lp/mm的逐步遞增量
  • 用於校準視訊系統
  • 檢測未知分辨率
Circular Scale Contact Reticles Circular Scale Contact Reticles
  • Greater Stability than Film Reticles
  • Low Reflection Chrome Pattern
  • Protractor, Crosshair, or Concentric Square Patterns
New 高分辨率顯微鏡載玻片測試板 高分辨率顯微鏡載玻片測試板
  • 小型圖案尺寸 - 100nm 及 3300 lp/mm
  • 使用高度精準的電子束微影技術組合而成
  • 負片圖案設計
USAF 1951 and Dot Grid Target USAF 1951 and Dot Grid Target
  • USAF 1951 Elements 0 to 3 (14 lp/mm)
  • Fixed Frequency Grid on 2mm Centers
  • 2” x 2.75”
線網格測試板 線網格測試板
  • 測試與校正視覺系統的畸變
  • 校準顯微鏡載物臺的透視誤差
  • 測量物理視場
圓點與方形校準測試板 圓點與方形校準測試板
  • 專為測量校準而設
  • 正片和負片玻璃鍍鉻圖案
  • 高對比度測試板,用於成像 0.5 至 10mm 的元件
  • 隨附 NIST 可追蹤憑證
乳白色玻璃朗奇刻線法載玻片 乳白色玻璃朗奇刻線法載玻片
  • 採用鉻膜乳白色玻璃
  • 反射式系統的分辨率測試
  • 高精度公差
採用精密朗奇刻線法的乳白色玻璃 採用精密朗奇刻線法的乳白色玻璃
  • 採用鉻膜乳白色玻璃
  • 高精度
  • 提供英制與公制版本
星標陣列測試板 星標陣列測試板
  • 監測各視場點的像差
低放大倍率系統適用的多功能校準測試板 低放大倍率系統適用的多功能校準測試板
  • 可在0.08至4倍範圍內對系統進行校準
  • 可量測調制轉換函數、景深、分辨率、視場與畸變
  • 包括N.I.S.T.準確度憑證
Clearance 愛特蒙特光學機器視覺鏡臺測微尺 愛特蒙特光學機器視覺鏡臺測微尺
  • 經過NIST認證帶可追蹤精度憑證
  • 特別適合視覺系統的快速校準
  • 隨附耐用儲存盒
多功能高放大倍率校準測試板 多功能高放大倍率校準測試板
  • 專為量測校準而設計;非常適用於顯微鏡與機器視覺系統
  • Includes Ronchi Rulings, Concentric Circles, Square Grids, and a Linear Microscale
  • 提供兩個測試板,以取得不同的放大倍率
  • NIST Certificate of Accuracy Included
Clearance EIA 灰階圖案測試片 EIA 灰階圖案測試片
  • 視訊校準
  • 永久的密度標準
  • 評估/比較相機的動態範圍
Clearance 象牙白玻璃分劃板測試板 象牙白玻璃分劃板測試板
  • Crossline, Index Grid, or Concenctric Circle Reticles
  • White Ivory Soda Lime Glass Substrates
  • 27mm Diameter Reticles
標準色卡 標準色卡
  • 測試真實的色彩平衡
  • 包括自然色、色度色、三原色以及灰度色
  • 多達30個科學設計的色塊
Indexed Grids Transmission Reticles Indexed Grids Transmission Reticles
  • Designed for 1X Objective Power
  • Indexed Grid Pattern
  • 19 or 21mm Diameter Reticles
Stage Micrometers Stage Micrometers
  • Reticle Scales Centered on Microscope Slides
  • Designed for Routine Calibration
  • 1 x 3" Slide Sizes
Net Grid Transmission Reticles Net Grid Transmission Reticles
  • Designed for 1X Objective Power
  • Net Grid Squares over Entire Field
  • 19 or 21mm Diameter Versions
分辨力圖表 分辨力圖表
  • Test for Astigmatism
  • USAF Test Pattern in Black, Red, Yellow, and Blue
  • 6 Elements in 6 Groups
Crossline Transmission Reticles Crossline Transmission Reticles
  • Designed for 1X Objective Power
  • Crossline Pattern
  • 19 or 21mm Diameter Versions
Kodak成像圖卡 Kodak成像圖卡
  • 超過18種測試圖案
  • 採用8 ½" x 11" 薄膜
Image Analysis Micrometers 圖像分析測微尺
  • 專為測量校準而設
 
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