鏤空式光路USAF測試板

確定X光、紫外、熱及遠紅外成像系統的分辨率
輕鬆固定
非常適用於穿透應用

我們的鏤空式光路USAF測試板採用極薄的電鑄鎳基底製造。由於圖案區域沒有玻璃，光線僅通過空氣，因此消除了著色與吸收問題。測試板圖案包含群組0元素1到群組3元素6。我們的紫外熔融矽石與螢光USAF測試板可用於多數NUV應用，但鏤空式光路測試板可用於非常深的紫外與遠紅外應用。The electroform pattern is mounted between two circular plates, allowing it to be mounted in our standard optic mount, #64-565.

技術資訊

Number of Line Pairs / mm in USAF Resolving Power Test Target 1951
Element	Group No.
Element	0	1	2	3
1	1.00	2.00	4.00	8.00
2	1.12	2.24	4.49	8.98
3	1.26	2.52	5.04	10.10
4	1.41	2.83	5.66	11.30
5	1.59	3.17	6.35	12.70
6	1.78	3.56	7.13	14.30

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