短波紅外（SWIR）複消色差遠場校正物鏡

SWIR 複消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內，長距離條件下具備高解析度。這些物鏡提供 1X – 50X 的放大倍率，具有高數值孔徑，適用於短波紅外波長下的高解析度成像。這些物鏡具有共同的95mm平焦距，可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機結合使用進行簡單的系統整合。短波紅外複消色差遠場校正物鏡適用於光電發射檢測、晶圓背面檢查、雷射玻璃切割和雷射掃描顯微鏡等應用。