eo_logo
  • 國家/地區
  • 您好! 我的帳戶
  • cart   
 

Image Analysis & Stage Micrometers

Need Help?
Looking for
Custom Optics?

DOF 5-15景深測試板 DOF 5-15景深測試板
  • 測試成像系統中的景深
  • 無需計算
圓點與方形校準測試板 圓點與方形校準測試板
  • 專為測量校準而設
  • 正片和負片玻璃鍍鉻圖案
  • 高對比度測試板,用於成像 0.5 至 10mm 的元件
  • 隨附 NIST 可追蹤憑證
雙軸線性尺規鏡臺測微尺 雙軸線性尺規鏡臺測微尺
  • 雙軸設計
  • 英制和公制型號
  • 備有NIST認證的型號
愛特蒙特光學機器視覺鏡臺測微尺 愛特蒙特光學機器視覺鏡臺測微尺
  • 經過NIST認證帶可追蹤精度憑證
  • 特別適合視覺系統的快速校準
  • 隨附耐用儲存盒
愛特蒙特遠心度測試板 愛特蒙特遠心度測試板
  • Critical Tool for Measurement Vision Systems
  • 校準任何類型的鏡頭
  • 提供大範圍的放大倍數
圖像分析測微尺 圖像分析測微尺
  • 專為測量校準而設
Kodak成像圖卡 Kodak成像圖卡
  • 超過18種測試圖案
  • 採用8 ½" x 11" 薄膜
微線與圓點標準鏡臺測微尺 微線與圓點標準鏡臺測微尺
  • New Opal Version Available
  • 可校準像素抖動
  • 線條和圓點範圍從2μm 到100μm
低放大倍率系統適用的多功能校準測試板 低放大倍率系統適用的多功能校準測試板
  • 可在0.08至4倍範圍內對系統進行校準
  • 可量測調制轉換函數、景深、分辨率、視場與畸變
  • 包括N.I.S.T.準確度憑證
多功能高放大倍率校準測試板 多功能高放大倍率校準測試板
  • 專為量測校準而設計;非常適用於顯微鏡與機器視覺系統
  • Includes Ronchi Rulings, Concentric Circles, Square Grids, and a Linear Microscale
  • 提供兩個測試板,以取得不同的放大倍率
  • NIST Certificate of Accuracy Included
多柵標準鏡臺測微尺 多柵標準鏡臺測微尺
  • 可校準高放大倍數系統的畸變
象牙白玻璃分劃板測試板 象牙白玻璃分劃板測試板
  • Crossline, Index Grid, or Concenctric Circle Reticles
  • White Ivory Soda Lime Glass Substrates
  • 27mm Diameter Reticles
帶數位測微尺的定位調整臺 帶數位測微尺的定位調整臺
  • 0.001mm Resolution Directly Readable Micrometer
  • Readout in Inches or Millimeters
  • Available with English or Metric Mounting Holes
Reticle Calibration Stage Micrometer Reticle Calibration Stage Micrometer
  • Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
  • Image Sizes from 0.1 to 20mm
  • Available with NIST Traceable Data
Stage Micrometers Stage Micrometers
  • Reticle Scales Centered on Microscope Slides
  • Designed for Routine Calibration
  • 1 x 3" Slide Sizes

View all Resources Related to Image Analysis & Stage Micrometers  

Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets are used to evaluate or calibrate an image system's performance by measuring image quality standards such as resolution, contrast, or depth of field. Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets detail a range of shapes or patterns that measure the accuracy of an imaging system by viewing them with an imaging lens. Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets effectively determine the capabilities of an imaging system, allowing for accurate certification of performance as well as for establishing baseline standards for multiple systems working together.


是否有疑問? 需要支援嗎? - 請詢問工程師。

(04) 2293 6309 即時線上洽詢

您也可以填寫下列表格,我們將與您聯繫:

×

是否需要報價? Add a stock number to begin our two-step quote process.

Edmund Optics Facebook Edmund Optics Twitter Edmund Optics YouTube Edmund Optics LinkedIn Edmund Optics Instagram Edmund Optics Tick Tock

×