• 國家/地區
  • 您好! 我的帳戶
  •   
 

Resolution Test Targets

Need Help?
Looking for
Custom Optics?

高分辨率顯微鏡載玻片測試板 New
×
高分辨率顯微鏡載玻片測試板
  • 小型圖案尺寸 - 100nm 及 3300 lp/mm
  • 使用高度精準的電子束微影技術組合而成
  • 負片圖案設計
1951 USAF對比度分辨率測試板 1951 USAF對比度分辨率測試板
  • 提供密度不同的15個USAF測試板
  • 可以測量不同對比度層級的分辨率
1951 USAF 分辨率測試板 1951 USAF 分辨率測試板
  • 玻璃上的負片圖案與正片圖案
  • Two Sizes Available
  • 每個圖案都已裝箱,並包括分辨率值圖表
  • 提供高分辨率測試板 (最高645 lp/mm)
1951 USAF Photographic Paper Resolution Targets 1951 USAF Photographic Paper Resolution Targets
  • 採用4:3的長寬比排列,以視場函數的形式測量分辨率
  • 每個部分包含不同密度層級的四個USAF測試板
鏤空式光路USAF測試板 鏤空式光路USAF測試板
  • 確定X光、紫外、熱及遠紅外成像系統的分辨率
  • 輕鬆固定
  • 非常適用於穿透應用
高精度的朗奇刻線法 高精度的朗奇刻線法
  • 在玻璃上鍍鉻
  • 高精度
  • 優於蝕刻與裝填刻線法
  • 線與邊緣平行
  • 提供英制與公制版本
I3A/ISO 12233 分辨率測試圖卡 I3A/ISO 12233 分辨率測試圖卡
  • Complies with the ISO 12233 Standard
  • 提供整個場的分辨率校準
  • Applicable to Both Monochrome and Color Cameras that Deliver a Digital or Analog Video Signal
  • 提供三種尺寸
IEEE Target IEEE Target
  • Full Field Resolution Calibration
  • Designed for Testing of Analog Imaging Systems
NBS 1963A分辨率測試板 NBS 1963A分辨率測試板
  • 負片圖案或正片圖案
  • 符合NBS標準1010A
  • 頻率範圍1至512週期/mm
乳白色玻璃朗奇刻線法載玻片 乳白色玻璃朗奇刻線法載玻片
  • 採用鉻膜乳白色玻璃
  • 反射式系統的分辨率測試
  • 高精度公差
Pocket USAF Optical Test Pattern Pocket USAF Optical Test Pattern
  • Pocket Sized USAF Test Pattern
精密朗奇刻線法載玻片 精密朗奇刻線法載玻片
  • 用於評估分辨率、場畸變以及等焦穩定性
  • 非常適合因應分劃板與場校準需求
  • Available on Float Glass, Fused Silica, Fused Silica with Fluorescent Backing, and Opal.
採用精密朗奇刻線法的乳白色玻璃 採用精密朗奇刻線法的乳白色玻璃
  • 採用鉻膜乳白色玻璃
  • 高精度
  • 提供英制與公制版本
分辨力圖表 分辨力圖表
  • Test for Astigmatism
  • USAF Test Pattern in Black, Red, Yellow, and Blue
  • 6 Elements in 6 Groups
正弦測試板 正弦測試板
  • 專為MTF檢測而設
  • 判別成像元件的圖像品質
星標測試板 星標測試板
  • 非常適用於監測焦距誤差與像散
  • 楔形間距為0.6至14 lp/mm
  • 可用於白色相紙或鉻膜玻璃
星標陣列測試板 星標陣列測試板
  • 監測各視場點的像差
USAF 1951 and Dot Grid Target USAF 1951 and Dot Grid Target
  • USAF 1951 Elements 0 to 3 (14 lp/mm)
  • Fixed Frequency Grid on 2mm Centers
  • 2” x 2.75”
USAF圖案輪式測試板 USAF圖案輪式測試板
  • 測試4 - 228 lp/mm的分辨率
  • Ability to tests Multiple Field Points using 9 Targets
  • 縮短測試時間
紫外熔融矽石與螢光USAF 1951分辨率測試板 紫外熔融矽石與螢光USAF 1951分辨率測試板
  • 專為校準紫外或螢光顯微鏡而設計
  • 螢光測試板的激發波長為365nm,發射波長為550nm
  • 提供負、正與高分辨率測試板
可變頻率測試板 可變頻率測試板
  • 5 lp/mm至120 lp/mm,或5 lp/mm至200 lp/mm
  • 採用1mm寬的步長
  • 採用5 lp/mm的逐步遞增量
  • 用於校準視訊系統
  • 檢測未知分辨率

View all Resources Related to Resolution Test Targets  

Resolution Test Targets are used to measure the accuracy or performance of an imaging system for applications such as microscopy or imaging. Resolution Test Targets are inserted into an imaging system to provide measurement capabilities. Resolution Test Targets use a variety of patterns including Ronchi or star to measure a system’s resolution. High precision models are also available for demanding or precise measurement requirements.

Edmund Optics offers a wide range of Resolution Test Targets suited for many imaging measurement needs. Resolution Test Targets provide the user the ability to easily measure the accuracy of an imaging system, extending a system’s lifecycle by maintaining its effectiveness after continued use or time. Star targets feature a circle of converging lines that measure resolution by determining how far an imaging system can distinguish individual lines. Ronchi targets similarly use a series of fine lines to measure an imaging system’s performance. Many Resolution Test Targets are available in both glass slide as well as photographic paper versions.


是否有疑問? 需要支援嗎? - 請詢問工程師。

(04) 2293 6309 即時線上洽詢

You may also fill out the below form and we will contact you:

×

是否需要報價? Add a stock number to begin our two-step quote process.

Edmund Optics Facebook Edmund Optics Twitter Edmund Optics YouTube Edmund Optics LinkedIn Edmund Optics Instagram

×