DataRay M²測量系統

DataRay M²測量系統將束斑分析相機與自動位移平臺相結合，打造出一站式M²測量解決方案。M²，即光束品質因數，用於描述實際雷射光束與理想TEM00光束之間的偏差程度，是雷射及雷射系統製造領域廣泛採用的驗收標準。該系統透過自動位移的束斑分析相機穿過光束腰部進行測量，符合ISO 11146標準，並提供50mm或200mm的行程長度選擇，以及355 - 1150nm或2000 - 16000nm兩種波長範圍選項。DataRay M²測量系統採用易於配置的USB3連接埠，配備直觀的軟體介面，並支援多種可選配件。這類測量系統是測量各種脈衝雷射或連續雷射的M²因數的理想之選。