DataRay M² 量測系統

DataRay M² 量測系統將安裝在自動平移台上的光束分析相機整合為一套一體式 M² 量測系統。M²，或稱光束品質因子，用於表徵真實雷射光束相較於理想 TEM00 光束的不完美程度，也是雷射或雷射系統製造中的常見驗收標準。這些系統透過將安裝的光束分析儀移動穿過光束腰以執行符合 ISO 11146 的量測，並提供 50 或 200mm 行程長度，以及 355 - 1150nm 或 2000 - 16000nm 兩種波長範圍選項。DataRay M² 量測系統採用易於設定的 USB3 系統與直覺式軟體介面設計，並提供多種可另購的配件。這些量測系統非常適合量測脈衝與 CW 雷射上的各種 M²。