3" x 3" 0.5mm Dot, Low Reflect Grid Distortion Target

產品系列說明

• 漫反射處理模仿陶瓷測試板
• 基片上鍍鉻膜
• 軸上照明或軸外照明皆無眩光
• 非常適合前置照明測量

本漫反射柵格畸變測試板的漫反射處理與陶瓷測試板相似，可將光線進行漫反射處理，防止成像面出現眩光。使用本測試板可輕鬆確定圖像中存在的精確畸變大小。可採用測量軟體中的Blob分析來計算圓點中心，並根據標準來計算，以從圖像中移除畸變。本測試板提供2種基片尺寸和3種圓點頻率，可與從廣角鏡頭到遠攝鏡頭的多種鏡頭配合使用。