4X to 20X Multi-Function Target

產品系列說明

• 專為量測校準而設計;非常適用於顯微鏡與機器視覺系統
• Includes Ronchi Rulings, Concentric Circles, Square Grids, and a Linear Microscale
• 提供兩個測試板，以取得不同的放大倍率
• NIST Certificate of Accuracy Included

使用這些「一體化」測試板可量測顯微鏡與視覺系統參數，而無需使用單獨的校準測試板。這些測試板可以測試及校準我們的Mitutoyo物鏡、Zeiss顯微鏡以及高放大倍率視訊透鏡的分辨率、畸變與景深 (DOF)。測試板包括可變頻率朗奇刻線板、不同線間距與寬度的多組網格與同心圓、微刻度，以及支援測試板執行景深量測的邊緣區塊。提供使用者資訊卡、完整的手冊光碟，以及N.I.S.T.憑證。

低頻率測試板適用於具有4至20倍物鏡的光學系統。對於具有低放大倍率及長焦距的機器視覺系統，這些測試板非常有用。

高頻率測試板適用於具有20至100倍物鏡的光學系統。對於具有高放大倍率及短焦距的顯微鏡及其他系統，這些測試板非常有用。

技術資訊

4X - 20X Target Specifications - Concentric Circles
Outer Diameter (mm)	Line Spacing (mm)	Line Width (μm)
5.0	0.25	20
4.0	0.25	15
3.0	0.25	10
2.0	0.10	7.5
1.0	0.10	5

4X - 20X Target Specifications - Grids
Width (mm)	Line Spacing (mm)	Line Width (μm)
4.5	0.25	20
4.5	0.25	15
4.5	0.25	10
4.5	0.10	15
4.5	0.10	10
4.5	0.10	5
2.55	0.075	10
2.55	0.075	5
2.55	0.050	5
2.55	0.050	2.5

20X - 100X Target Specifications - Concentric Circles
Outer Diameter (mm)	Line Spacing (mm)	Line Width (μm)
3.0	0.25	10
2.0	0.10	7.5
1.5	0.10	5
1.0	0.05	5
1.0	0.05	2.5

20X - 100X Target Specifications - Grids
Width (mm)	Line Spacing (mm)	Line Width (μm)
3.0	0.25	10
3.0	0.25	7.5
3.0	0.25	5
3.0	0.10	10
3.0	0.10	7.5
3.0	0.10	5
2.55	0.075	10
2.55	0.075	5
2.55	0.050	5
2.55	0.050	2.5