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漫反射柵格畸變測試板


  • 漫反射處理模仿陶瓷測試板
  • 基片上鍍鉻膜
  • 軸上照明或軸外照明皆無眩光
  • 非常適合前置照明測量

本漫反射柵格畸變測試板的漫反射處理與陶瓷測試板相似,可將光線進行漫反射處理,防止成像面出現眩光。使用本測試板可輕鬆確定圖像中存在的精確畸變大小。可採用測量軟體中的Blob分析來計算圓點中心,並根據標準來計算,以從圖像中移除畸變。本測試板提供2種基片尺寸和3種圓點頻率,可與從廣角鏡頭到遠攝鏡頭的多種鏡頭配合使用。

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