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雙軸線性尺規鏡臺測微尺


  • 雙軸設計
  • 英制和公制型號
  • 備有NIST認證的型號

本線性尺規鏡臺測微尺可同時在X軸和Y軸精確校準機器視覺系統。校準時無需旋轉,也無需補償相機寬高比。本品有兩組刻線,公制刻線(25μm一小格)和英制刻線(1 mil (0.001")一小格)。Target is chrome on glass or chrome on opal.

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