雙軸線性尺規鏡臺測微尺

本線性尺規鏡臺測微尺可同時在X軸和Y軸精確校準機器視覺系統。校準時無需旋轉，也無需補償相機寬高比。本品有兩組刻線，公制刻線（25μm一小格）和英制刻線（1 mil (0.001")一小格）。Target is chrome on glass or chrome on opal.