Mitutoyo 三豐WLI複消色差遠場校正物鏡

三豐WLI Plan APO遠場校正物鏡是專為白光干涉測量應用設計的高解析度平場複消色差物鏡，具備高數值孔徑特性。該系列物鏡在保持緊湊輕量化設計的同時，可實現60mm的長齊焦工作距離。每支物鏡均配備干涉條紋調節機構和內建分光鏡，確保對干涉條紋圖案的精確測量與控制。每支物鏡均配備干涉條紋調節機構和內建分光鏡，可實現對干涉條紋圖案的精確測量與控制。三豐WLI Plan APO遠場校正物鏡提供2.5-50倍放大倍率選項，需搭配100mm焦距管鏡使用。該系列物鏡是白光干涉測量的理想選擇，適用於垂直掃描干涉測量（VSI）、3D表面形貌分析、色散與反射率測量及醫學成像等應用。