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多功能高放大倍率校準測試板


  • 專為量測校準而設計;非常適用於顯微鏡與機器視覺系統
  • Includes Ronchi Rulings, Concentric Circles, Square Grids, and a Linear Microscale
  • 提供兩個測試板,以取得不同的放大倍率
  • NIST Certificate of Accuracy Included

使用這些「一體化」測試板可量測顯微鏡與視覺系統參數,而無需使用單獨的校準測試板。這些測試板可以測試及校準我們的Mitutoyo物鏡、Zeiss顯微鏡以及高放大倍率視訊透鏡的分辨率、畸變與景深 (DOF)。測試板包括可變頻率朗奇刻線板、不同線間距與寬度的多組網格與同心圓、微刻度,以及支援測試板執行景深量測的邊緣區塊。提供使用者資訊卡、完整的手冊光碟,以及N.I.S.T.憑證。

低頻率測試板適用於具有4至20倍物鏡的光學系統。對於具有低放大倍率及長焦距的機器視覺系統,這些測試板非常有用。

高頻率測試板適用於具有20至100倍物鏡的光學系統。對於具有高放大倍率及短焦距的顯微鏡及其他系統,這些測試板非常有用。

技術資訊

4X - 20X Target Specifications - Concentric Circles
Outer Diameter (mm) Line Spacing (mm) Line Width (μm)
5.0 0.25 20
4.0 0.25 15
3.0 0.25 10
2.0 0.10 7.5
1.0 0.10 5
4X - 20X Target Specifications - Grids
Width (mm) Line Spacing (mm) Line Width (μm)
4.5 0.25 20
4.5 0.25 15
4.5 0.25 10
4.5 0.10 15
4.5 0.10 10
4.5 0.10 5
2.55 0.075 10
2.55 0.075 5
2.55 0.050 5
2.55 0.050 2.5
4X - 20X Target Specifications - Ronchi Rulings
Range (lp/mm) Frequency Change (lp/mm)
60 - 380 20
4X - 20X Target Specifications - Linear Microscale
Length (mm) Divisions/mm Microns/divisions
0 - 68.2 20 50
20X - 100X Target Specifications - Concentric Circles
Outer Diameter (mm) Line Spacing (mm) Line Width (μm)
3.0 0.25 10
2.0 0.10 7.5
1.5 0.10 5
1.0 0.05 5
1.0 0.05 2.5
20X - 100X Target Specifications - Grids
Width (mm) Line Spacing (mm) Line Width (μm)
3.0 0.25 10
3.0 0.25 7.5
3.0 0.25 5
3.0 0.10 10
3.0 0.10 7.5
3.0 0.10 5
2.55 0.075 10
2.55 0.075 5
2.55 0.050 5
2.55 0.050 2.5
20X - 100X Target Specifications - Ronchi Rulings
Range (lp/mm) Frequency Change (lp/mm)
240 - 600 10
20X - 100X Target Specifications - Linear Microscale
Length (mm) Divisions/mm Microns/divisions
0 - 68.2 20 50

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