Edmund Optics®使用自己的和第三方Cookie來優化我們網站的技術服務功能。了解我們如何使用Cookie。

  • 我的帳戶
  •   
系列ID系列ID用於識別產品系列介紹,使得用戶利用搜索功能就能快速訪問介紹頁面。 #2779

NIST Traceable Scratch Dig Standards

NIST Traceable Scratch Dig Standards

NIST Traceable Scratch Dig Standards


本表面品質標準可用於判定光學元件表面上的刮痕和亮點表面缺陷。除了刮痕和亮點標記外,本品還帶60mm刻尺,每個板上都有6個尺寸不一的柵格、6個頻率不一的刻線。柵格可用來測量形狀不規則缺陷的區域。區域的總缺陷面積的平方根即為該區域的等級編號。本標準採用兩個板一組的形式,板1包括範圍從0.004到0.040的等級編號,而板2包括範圍從0.040到0.400的等級編號。第一個面組具有玻璃基片頂部標記的圖案。第二個面組具有玻璃基片底部標記的圖案。正片採用不透明圖案,背景透明;負片為透明圖案,背景不透明。

注意:每個產品均隨附合格證書。

技術資訊

Plate 1
Grade No. Circ. Diameter (μm) Dim. of Scratch (μm) Freq. Block (lp/mm) Grid Block Line W (μm) Grid Block Line Spacing (μm)
0.004 4.5 1 x 16 500 1 4.5
0.006 7 1.6 x 25 312.5 1.6 7
0.010 11 2.5 x 40 200 2.5 11
0.016 18 4 x 63 125 4 18
0.025 28 6.3 x 100 80 6.3 28
0.040 45 10 x 160 50 10 45
Plate 2
Grade No. Circ. Diameter (μm) Dim. of Scratch (μm) Freq. Block (lp/mm) Grid Block Line W (μm) Grid Block Line Spacing (μm)
0.040 45 10 x 160 50 10 45
0.060 70 16 x 225 31.25 10 70
0.100 110 25 x 400 20 10 110
0.160 180 40 x 630 12.5 10 180
0.250 280 63 x 1000 8 10 280
0.400 450 100 x 1600 5 10 450

是否需要報價?

Edmund Optics Facebook Edmund Optics Twitter Edmund Optics YouTube Edmund Optics LinkedIn Edmund Optics Google+ Edmund Optics Instagram

SSL, SSL Certificates, Secure Sockets Layer
×