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SpectraRad™ Xpress 分光輻射計

SpectraRad™ Xpress VIS/NIR Spectral Irradiance Meter

SpectraRad™ Xpress VIS/NIR Spectral Irradiance Meter

  • 測量、鑑定及校正光源
  • 精巧的封閉式系統,適用於現場、工業及實驗室應用
  • 依據 NIST 可追溯標準校正

SpectraRad™ Xpress 分光輻射計為精巧的分光儀系統,設置各種輸入光學元件,並經校正可執行光源分析。輸入光學元件採用預先安裝的 PTFE 近餘弦校正平板,在可見光及近紅外線具備高穿透率,並具有大孔徑,能夠達到接近 180° 視場 (FOV) 的程度。分光儀系統會依據 NIST 可追溯光源進行校正,提供絕對光譜輻射度。資料擷取軟體提供基本的資料擷取功能,以及其他各種進階功能,例如時間軸記錄、資料平順化、色彩測量及外部觸發。本系統能夠報告關鍵的光度、輻射及色度規格,例如中央波長、主波長及質心波長、強度、色度、色溫、演色性指數 (CRI) 及其他各種規格。SpectraRad™ Xpress 分光輻射計是理想的隨插即用統包解決方案,適合各種現場、工業及實驗室應用,例如色彩分析、太陽能監控及模擬研究、光源鑑定(燈、LED、雷射)、照明分析、耐光度測試、光生物學及光化學。
注意:請勿拆卸內部光學元件,否則會讓校正無效。

分光輻射計可輕易整合至現場或實驗室環境,其中配備隨插即用的 USB 2.0/1.1 介面、輔助觸發功能,並可輕易使用相容於 Windows® 7、8、8.1 或 10 作業系統的軟體。軟體提供時間軸記錄、資料平滑化、色彩測量、外部脈衝光線擷取,以及其他資料處理功能。

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