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紫外熔融矽石與螢光USAF 1951分辨率測試板

Negative Target (top) <br /> Positive Target (bottom)

Negative Target (top)
Positive Target (bottom)


  • 專為校準紫外或螢光顯微鏡而設計
  • 螢光測試板的激發波長為365nm,發射波長為550nm
  • 提供負、正與高分辨率測試板

熔融矽石正測試板 (圖案鍍鉻,背景透明) 在測試板的上層表面放置鍍鉻圖案,熔融矽石負測試板 (圖案透明,背景鍍鉻) 也是如此。

螢光熔融矽石測試板非常適用於涉及螢光與共焦顯微鏡、奈米技術、光微影技術及其他以紫外為基礎之成像系統的應用。螢光熔融矽石正測試板 (圖案鍍鉻,背景透明) 在測試板的上層表面放置螢光材料。螢光熔融矽石負測試板 (圖案透明,背景鍍鉻) 在下層表面放置螢光材料。

注意:鍍鉻的上層表面將反射紫外幅射。 Avoid direct skin contact and eye exposure to UV energy. UV protective eyewear sold separately. Fluorescent material adds 0.1 - 0.2mm to thickness of fluorescent targets.

技術資訊

Number of Line Pairs / mm in USAF Resolving Power Test Target 1951
Element
Group Number
For High Res only
-2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
1 0.250 0.500 1.00 2.00 4.00 8.00 16.00 32.0 64.0 128.0 256.0 512.0
2 0.280 0.561 1.12 2.24 4.49 8.98 17.95 36.0 71.8 144.0 287.0 575.0
3 0.315 0.630 1.26 2.52 5.04 10.10 20.16 40.3 80.6 161.0 323.0 645.0
4 0.353 0.707 1.41 2.83 5.66 11.30 22.62 45.3 90.5 181.0 362.0
5 0.397 0.793 1.59 3.17 6.35 12.70 25.39 50.8 102.0 203.0 406.0
6 0.445 0.891 1.78 3.56 7.13 14.30 28.50 57.0 114.0 228.0 456.0

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