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紫外熔融矽石與螢光USAF 1951分辨率測試板

Negative Target (top), Positive Target (bottom)

專為校準紫外或螢光顯微鏡而設計
螢光測試板的激發波長為365nm，發射波長為550nm
提供負、正與高分辨率測試板

熔融矽石正測試板 (圖案鍍鉻，背景透明) 在測試板的上層表面放置鍍鉻圖案，熔融矽石負測試板 (圖案透明，背景鍍鉻) 也是如此。

螢光熔融矽石測試板非常適用於涉及螢光與共焦顯微鏡、奈米技術、光微影技術及其他以紫外為基礎之成像系統的應用。螢光熔融矽石正測試板 (圖案鍍鉻，背景透明) 在測試板的上層表面放置螢光材料。螢光熔融矽石負測試板 (圖案透明，背景鍍鉻) 在下層表面放置螢光材料。

注意：鍍鉻的上層表面將反射紫外幅射。 Avoid direct skin contact and eye exposure to UV energy. UV protective eyewear sold separately. Fluorescent material adds 0.1 - 0.2mm to thickness of fluorescent targets.

技術資訊

Number of Line Pairs / mm in USAF Resolving Power Test Target 1951
Element	Group Number										For High Res only
Element	-2	-1	0	1	2	3	4	5	6	7	8	9
1	0.250	0.500	1.00	2.00	4.00	8.00	16.00	32.0	64.0	128.0	256.0	512.0
2	0.280	0.561	1.12	2.24	4.49	8.98	17.95	36.0	71.8	144.0	287.0	575.0
3	0.315	0.630	1.26	2.52	5.04	10.10	20.16	40.3	80.6	161.0	323.0	645.0
4	0.353	0.707	1.41	2.83	5.66	11.30	22.62	45.3	90.5	181.0	362.0	—
5	0.397	0.793	1.59	3.17	6.35	12.70	25.39	50.8	102.0	203.0	406.0	—
6	0.445	0.891	1.78	3.56	7.13	14.30	28.50	57.0	114.0	228.0	456.0	—