BWA-CAM VIS Multi Spot Beam Profiler and M2 Measurement

• 可即時分析光束輪廓、M²、質心位置、圓度與像散
• 相容連續波（CW）雷射及具備單脈衝能力的脈衝雷射。
• 非常適合用於雷射研發、品質控制及光學系統監測
• 符合ISO 11146 和 ISO 13694標準

Haas Laser Technologies BWA-CAM M² 分析相機可實現紫外（UV）、可見光（VIS）及紅外（IR）波段的連續波雷射與脈衝雷射即時M²測量。該系統具備簡便的一鍵校準功能，能夠基於單脈衝完成M²測量，非常適合動態或單次雷射系統應用。BWA-CAM依照ISO 11146和ISO 13694標準進行設計，可以精準評估關鍵空間光束參數，包括M²、光束輪廓、質心、圓度及像散。該相機可幫助使用者及早發現光學系統性能退化，最佳化雷射性能，從而實現最佳品質與工藝穩定性。BWA-CAM的模組化設計支援廣泛的雷射波長與應用環境，其高精度測量與即時資料蒐集能力使其成為研發、製造以及雷射系統診斷的關鍵工具。