進一步瞭解愛特蒙特光學® 使用的度量技術，協助保證所有光學元件及組件的優異品質。其中包含各式各樣的製程中度量技術，例如干涉儀、Shack-Hartmann 波前傳感器、輪廓儀、孔腔內共振衰減損耗計及其他設備。請造訪以下網址，進一步瞭解愛特蒙特光學的度量技術：https://www.edmundoptics.com.tw/capabilities/metrology/。
如果無法量測，就無法成功。愛特蒙特光學® 設置各式各樣的度量設備，保證公司在全球各地製造設施 所製造的光學元件和組件，都符合所有發佈的規格。製程中度量在愛特蒙特光學嚴格的 ISO 9001 全球品質計畫中，扮演舉足輕重的關鍵角色。這種度量技術協助愛特蒙特光學確保製程控制及可重複性，滿足量產需求。 其中運用干涉儀提供高精度的穿透及反射波前測量， 最小可達 1/20 波長。愛特蒙特光學使用多種干涉儀組態，包括拼接、大孔徑、小孔徑及電腦產生全像片等配置。白光干涉儀也用於測量表面粗糙度，並量化超快雷射光學元件之中的群組延時色散，例如高色散反射鏡。真實世界的群組延時色散，相較於大部分其他規格，更易不同於理論設計值，因此這項測量特別重要。此外像是雷射光束擴束器等部分組件，在測量穿透及反射波前誤差時，則會使用 Shack-Hartmann 波前傳感器取代干涉儀。輪廓儀及 座標量測機 (CMM)可利用探針量測光學元件表面， 以判定表面曲率、平整度及不規則度。輪廓儀 所能測量的形狀類型限制很少，是非球面透鏡度量的理想選擇。光學鍍膜的反射及穿透光譜特性 是透過分光光度測量進行驗證。如果是高度反射或穿透的光學元件，孔腔內共振衰減損耗計 可提供高精度的總損耗測量，其敏感度在 特定雷射線可達百萬分點等級。成像鏡頭組件的分辨率與對比度，則是使用 調製轉換函數 (MTF)、測試台、反向投影及客製測試設備進行測試。微分干涉差 對比或 DIC 顯微鏡可執行高敏感度的瑕疵偵測及 穿透材料，例如分析雷射損傷及光學鍍膜和 基材。環境測試設備用於特殊案例， 協助驗證元件及組件符合撞擊和 振動、濕度與浸沒等要求。愛特蒙特光學還運用許多其他度量技術，包括以原子力顯微鏡測量 "表面粗糙度、以共軸測量機測量透鏡同心度，以及利用準直儀進行角度驗證。以上所有要求嚴苛的 度量系統，以及運用純熟技術操作系統的 技術人員，協助確保愛特蒙特光學® 能夠 持續穩定地達到廣告宣傳的 規格條件，不論是大量或少量生產都一樣。產品測試及 驗證報告可依要求提供 。如需進一步瞭解愛特蒙特光學® 的 製造及度量能力，請造訪
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